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超微量天平與微量分析天平都是高精度稱量儀器，廣泛應用于科研、制藥等領域。以下是它們的具體介紹：
超微量天平
定義：是一種高精度稱量儀器，讀數精度精確至小數點后七位（0.1μg），可準確稱量最少為 30μg 的樣品。
特點：配備高度靈敏的稱量單元，能極為準確地稱量微克量程的物質。具有智能質量保證功能，可主動監控天平狀態。部分超微量天平還具備免觸摸操作功能，能降低交叉污染風險。
應用：主要用于排放物測試、灰化或焚燒中的微粒物質稱量、涂層測量等。
微量分析天平
定義：是微量天平和分析天平的混合體，讀數精度精確至小數點后六位（1μg）。
特點：額外配備一個內部防風罩，可保護高度靈敏的稱量單元免受空氣流動的影響，創造更穩定的稱量環境。其量程較大，梅特勒托利多 XPR 微量分析天平量程高達 52g，且最小稱量值小，適合將小樣品直接稱入大去皮容器中。
應用：常用于化學和元素分析、濾紙稱量以及涉及少量稀有、貴重、有毒或強效物質的應用。
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